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缺陷豆分類中的變色，碎裂，單顆粒，晶須，黑斑，不成熟豆挑選機(jī)“將AI引入分揀機(jī)并通過數(shù)據(jù)云提供分揀服務(wù)”通過AI和IoT輕松設(shè)置可輕松解決勞動(dòng)力短缺！簡(jiǎn)易的毛豆在屏幕上選擇區(qū)分形狀和顏色的PITA。在機(jī)器上設(shè)置黑點(diǎn)，變色，顆粒數(shù)量，一個(gè)顆粒...

如何提高管道生產(chǎn)品質(zhì)-管道內(nèi)表面粗糙度測(cè)量?jī)xArasamir一年前，我們推出了管道內(nèi)表面粗糙度測(cè)量?jī)x“Arasamir”。它是*yi個(gè)能夠使用Φ0.35mm超細(xì)纖維鏡觀察管道內(nèi)表面的設(shè)備。從那時(shí)起，我們通過改善測(cè)量?jī)x器的性能并將其用...

無損管內(nèi)表面粗糙度測(cè)量?jī)x技術(shù)-無損內(nèi)表面測(cè)量?jī)x“Arasamir”基本原理是在小直徑管中插入比小直徑管的內(nèi)徑小的管子（內(nèi)徑為φ0.5mm至φ1.5mm），并獲得內(nèi)表面圖像的亮度信息。并預(yù)先獲得表面粗糙度和亮度，并根據(jù)測(cè)量數(shù)據(jù)的相關(guān)性計(jì)算出表...

日本高溫観察裝置-日本米倉(cāng)制作yonekura[通用規(guī)格]在所有陣容中都可以觀察加熱情況爐體的封閉結(jié)構(gòu)可在任何大氣中加熱（大氣中加熱，氣流，真空）可以進(jìn)行高速加熱/冷卻，在1000°C或更低的溫度下（取決于條件），可以以50°C/秒的速度加...

日本用于半導(dǎo)體行業(yè)的高精度非接觸式測(cè)厚儀OZUMA22半導(dǎo)體（各種材料）的晶片硅Si.GaAs砷化鎵等，玻璃，金屬，化合物等的高精度非接觸式厚度測(cè)量（非接觸式厚度測(cè)量）1.1。可以通過空氣背壓法進(jìn)行非接觸式厚度測(cè)量（非接觸式厚度測(cè)量），并且...

日本用于實(shí)驗(yàn)和研究的紫外線簡(jiǎn)易曝光裝置UV-2000MT可與2000W金屬鹵化物燈和汞燈互換，支持多種波長(zhǎng)，是實(shí)驗(yàn)和研究的理想選擇。型式UV－2000MTサイズ本體450（W）×450（D）×450（H）㎜電源450（W）×450（D）×2...

日本san-eielectric三榮新款LED紫外線固化光源的差異性繼傳統(tǒng)的UV光纖光源（使用汞燈）之后，我們提供了使用LED的UV固化系統(tǒng)（固化設(shè)備）。與傳統(tǒng)產(chǎn)品相比，主機(jī)可以保持較低的價(jià)格，并且通過使用LED還可降低運(yùn)行成本。峰值波長(zhǎng)3...

日本seiwaopt近紅外鹵素?zé)艄庠醇夹g(shù)SIS-150（-NIR/-AIR）近紅外輻射設(shè)備一種在近紅外區(qū)域具有峰值的光纖光源設(shè)備。通過將其與專yong光學(xué)系統(tǒng)和對(duì)近紅外區(qū)域敏感的相機(jī)配合使用，它非常適合無損檢測(cè)，例如Si晶圓的內(nèi)部檢測(cè)和背面...

日本環(huán)氧樹脂收縮應(yīng)力測(cè)量技術(shù)大量的半導(dǎo)體封裝被安裝在諸如移dong電話和膝上型計(jì)算機(jī)之類的信息終端設(shè)備中使用的半導(dǎo)體產(chǎn)品上。些半導(dǎo)體封裝中，IC芯片用作為熱固性樹脂的環(huán)氧樹脂密封，填充在IC芯片和印刷電路板之間并固化，這對(duì)于確保電子部件的強(qiáng)...

什么是停止性能測(cè)量設(shè)備？日本inoden井上電子IDST-D型停止性能測(cè)量設(shè)備是一種用于測(cè)量并顯示具有突然停止機(jī)構(gòu)的動(dòng)力壓床突然停止時(shí)的最大停止時(shí)間以及此時(shí)的慣性下降值的設(shè)備。特征易于設(shè)置，可以快速工作。讀取機(jī)器行程并自動(dòng)設(shè)置停止輸出位置。...